JEDEC JESD57-1996
重离子辐射中半导体设备的单粒子效应测量的测试规程

Test Procedures for the Measurement of Single-Event Effects in Semiconductor Devices from Heavy Ion Irradiation


标准号
JEDEC JESD57-1996
发布
1996年
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
 
 
适用范围
该测试方法定义了集成电路地基单粒子效应 (SEE) 测试的要求和程序。

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