SAE J1879-2007
机车用半导体器件耐用性认证手册

Handbook for Robustness Validation of Semiconductor Devices in Automotive Applications

2014-02

SAE J1879-2007 中,可能用到以下仪器设备

 

激光单粒子效应模拟测量系统

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DAGE-4000 Bond tester多功能焊接强度测试仪

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Datacon全自动贴片机2200 evo plus

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纳米压印设备之热压印:EVG510HE

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牛津Oxford等离子体刻蚀机PlasmaPro 80 RIE

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牛津Oxford等离子沉积机PlasmaPro 80 PECVD

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牛津Oxford离子束刻蚀机Ionfab 300 IBE

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牛津Oxford深硅刻蚀机PlasmaPro 100 Estrelas

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牛津Oxford原子层刻蚀机PlasmaPro 100 ALE

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SAE J1879-2007

标准号
SAE J1879-2007
发布
2007年
发布单位
美国机动车工程师协会
替代标准
SAE J1879-2014
当前最新
SAE J1879-2014
 
 
本文件将主要讨论汽车电子中使用的电子元件的固有可靠性。在可行的情况下,还将讨论外在可靠性检测和预防的方法。本文档主要讨论集成电路问题,但可以轻松地适用于分立或无源元件鉴定,并生成与这些设备相关的故障机制列表。组件鉴定是本文档的主要范围。解决外在缺陷的其他程序在监控章节中专门讨论。本文件适用于实现零部件制造和产品使用中的零缺陷。本稳健性验证手册为汽车电子行业提...

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