JIS K0149-1-2008
微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南

Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification

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标准号

JIS K0149-1-2008

发布日期

2008年02月20日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

N32

国际标准分类号

37.020

发布单位

JP-JISC

引用标准

JIS Q0030 JIS Q0034 JIS Q0035 JIS Q17025

适用范围

この規格は，認証標準物質(以下，CRMという。)又は標準物質(以下，RMという。)を用いて走査電子顕微鏡(以下，SEMという。)の像倍率の校正方法について規定する。ただし，この規格は測長SEMには適用しない。たお，この規格の校正の倍率節囲は，用いるCRM又はRMによって制約を受ける。