JIS K0149-1-2008
微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南

Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification

JIS K0149-1-2008 发布历史

この規格は，認証標準物質(以下，CRMという。)又は標準物質(以下，RMという。)を用いて走査電子顕微鏡(以下，SEMという。)の像倍率の校正方法について規定する。ただし，この規格は測長SEMには適用しない。たお，この規格の校正の倍率節囲は，用いるCRM又はRMによって制約を受ける。

JIS K0149-1-2008由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 2008-02-20。

JIS K0149-1-2008 在中国标准分类中归属于: N32 放大镜与显微镜，在国际标准分类中归属于: 37.020 光学设备。

JIS K0149-1-2008 发布之时，引用了标准

• JIS Q0030 *， 2019-01-21 更新
• JIS Q0034 标准物质生产商能力的通用要求*， 2012-06-20 更新
• JIS Q0035 *， 2022-03-22 更新
• JIS Q17025 检测和校正试验室能力的一般要求

* 在 JIS K0149-1-2008 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

JIS K0149-1-2008的历代版本如下：

• 2008年02月20日 JIS K0149-1-2008 微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南

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标准号

JIS K0149-1-2008

发布日期

2008年02月20日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

N32

国际标准分类号

37.020

发布单位

JP-JISC

引用标准

JIS Q0030 JIS Q0034 JIS Q0035 JIS Q17025

适用范围

この規格は，認証標準物質(以下，CRMという。)又は標準物質(以下，RMという。)を用いて走査電子顕微鏡(以下，SEMという。)の像倍率の校正方法について規定する。ただし，この規格は測長SEMには適用しない。たお，この規格の校正の倍率節囲は，用いるCRM又はRMによって制約を受ける。