ISO 14997:2003
光学和光学仪器.测定光学元件表面缺陷的试验方法
Optics and optical instruments - Test methods for surface imperfections of optical elements
ISO 14997:2003 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- ISO 14997:2003
- 发布
- 2003年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 14997:2011
- 当前最新
- ISO 14997:2017
- 引用标准
- ISO 10110-7:1996 ISO 11145:2001
- 本国际标准确立了实施 ISO 10110-7 中规定的两种表面缺陷测量方法的物理原理和实用方法。 这些方法是：方法 I，受缺陷遮挡或影响的表面积，以及方法 II，缺陷的可见度。 两种方法都适用于各种光学元件的原型、小规模或大规模生产。 与特定组件相关的缺陷外观或功能公差可以通过供应商和客户之间的协议来确定。
ISO 14997:2003相似标准
推荐
了解表面质量
适用于表面质量评级的规定包括：1、ANSI/OEOSC OP1.002-2009，针对光学和电光仪器 – 光学元素和组件 – 外观缺陷*2、ISO10110-7：2008，光学和光电- 适用于光学元件和系统的制图 - 第7部分：表面缺陷公差*3、ISO14997：2003;光学和光学仪器 - 用于检测光学元件表面缺陷的方法4、MIL-PRF-13830B；管理火控仪器光学组件的制造、组装和检测的一般规格...
材料检测设备与技术大全
5、物理吸附仪与材料比表面和孔体积物理吸附仪/比表面及孔径分析仪是对多孔和粉体材料的比表面、孔体积、孔分布进行测定分析的设备，广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量监控。...
ICP光谱仪“积劳成疾”，你该怎么办？
如果温度变化太大，光学元件受温度变化的影响就会产生谱线漂移，造成测定数据不稳定，一般室温要求维持在20～25摄氏度间的一个固定温度，温度变化应小于±1摄氏度。而环境湿度过大，光学元件，特别是光栅容易受潮损坏或性能降低。电子系统，尤其是印刷电路板及高压电源上的元件容易受潮烧坏。...
光学玻璃技术原理及发展发现解析
它包含以下工艺流程：以钠钙硅玻璃为基片进行切割，精磨边的冷加工→对冷加工后的钠钙硅玻璃进行化学气相热处理→将钠钙硅玻璃表面进行镀防火保护膜的处理→将钠钙硅玻璃表面进行特种物理钢化处理。由缸体及其与之相套合的缸盖、与缸盖一体连接的反应釜构成专用热分解气化设备。8、发展光学玻璃的发展和光学仪器的发展是密不可分的。...
ISO 14997:2003 中可能用到的仪器设备
谁引用了ISO 14997:2003 更多引用
ISO 10110-7:2017 光学和光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第7部分:表面缺陷公差
BS EN ISO 11151-1:2015 激光和激光相关设备.标准光学元件.紫外线,可见光和近红外光谱范围内的元件
BS EN ISO 11151-2:2015 激光和激光相关设备.标准光学元件.红外光谱范围内的元件
JIS B 0090-7:2012 光学元件和系统图的绘制.第7部分:表面缺陷公差
DIN ISO 10110-7:2009 光学和光子学.光学元件和系统的制图准备.第7部分:表面缺陷公差(ISO 10110-7:2008),DIN ISO 10110-7:2009-06的英文版本
ISO 10110-7:2008 光学和光子学.光学元件和设备制图的准备工作.第7部分:表面缺陷公差