ISO 14997:2003
光学和光学仪器.测定光学元件表面缺陷的试验方法
Optics and optical instruments - Test methods for surface imperfections of optical elements
哪些标准引用了ISO 14997:2003
ISO 10110-7:2017 光学和光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第7部分:表面缺陷公差BS EN ISO 11151-1:2015 激光和激光相关设备.标准光学元件.紫外线,可见光和近红外光谱范围内的元件BS EN ISO 11151-2:2015 激光和激光相关设备.标准光学元件.红外光谱范围内的元件JIS B 0090-7:2012 光学元件和系统图的绘制.第7部分:表面缺陷公差DIN ISO 10110-7:2009 光学和光子学.光学元件和系统的制图准备.第7部分:表面缺陷公差(ISO 10110-7:2008),DIN ISO 10110-7:2009-06的英文版本ISO 10110-7:2008 光学和光子学.光学元件和设备制图的准备工作.第7部分:表面缺陷公差
- 标准号
- ISO 14997:2003
- 发布
- 2003年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 14997:2011
- 当前最新
- ISO 14997:2017
- 引用标准
- ISO 10110-7:1996 ISO 11145:2001
- 本国际标准确立了实施 ISO 10110-7 中规定的两种表面缺陷测量方法的物理原理和实用方法。 这些方法是：方法 I，受缺陷遮挡或影响的表面积，以及方法 II，缺陷的可见度。 两种方法都适用于各种光学元件的原型、小规模或大规模生产。 与特定组件相关的缺陷外观或功能公差可以通过供应商和客户之间的协议来确定。
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BS EN ISO 11151-1:2015 激光和激光相关设备.标准光学元件.紫外线,可见光和近红外光谱范围内的元件
BS EN ISO 11151-2:2015 激光和激光相关设备.标准光学元件.红外光谱范围内的元件
JIS B 0090-7:2012 光学元件和系统图的绘制.第7部分:表面缺陷公差
DIN ISO 10110-7:2009 光学和光子学.光学元件和系统的制图准备.第7部分:表面缺陷公差(ISO 10110-7:2008),DIN ISO 10110-7:2009-06的英文版本
ISO 10110-7:2008 光学和光子学.光学元件和设备制图的准备工作.第7部分:表面缺陷公差