GB/T 15651.3-2003
半导体分立器件和集成电路第5-3部分;光电子器件测试方法

Discrete semiconductor devices and integrated circuits Part 5-3:Optoelectronic devices Measuring methods

GBT15651.3-2003, GB15651.3-2003


GB/T 15651.3-2003 中,可能用到以下仪器设备

 

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GB/T 15651.3-2003

标准号
GB/T 15651.3-2003
别名
GBT15651.3-2003
GB15651.3-2003
发布
2003年
采用标准
IEC 60747-5-3:1997 IDT
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 15651.3-2003
 
 
本部分适用于光电子器件的测试方法,用于光纤系统或子系统的除外。

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