GB/T 17574.10-2003
半导体器件 集成电路 第2-10部分;数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2-10:Digital integrated circuits-Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories

GB/T 17574.10-2003 发布历史

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列标准一起使用。

GB/T 17574.10-2003由国家质检总局 CN-GB 发布于 2003-11-24，并于 2004-08-01 实施。

GB/T 17574.10-2003 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

GB/T 17574.10-2003的历代版本如下：

• 2003年11月24日 GB/T 17574.10-2003 半导体器件 集成电路 第2-10部分;数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范

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标准号

GB/T 17574.10-2003

发布日期

2003年11月24日

实施日期

2004年08月01日

废止日期

无

中国标准分类号

L56

国际标准分类号

31.200

发布单位

CN-GB

适用范围

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列标准一起使用。

GB/T 17574.10-2003系列标准