GB/T 17574.10-2003
半导体器件 集成电路 第2-10部分;数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2-10:Digital integrated circuits-Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories

GBT17574.10-2003, GB17574.10-2003

标准号

GB/T 17574.10-2003

别名

GBT17574.10-2003, GB17574.10-2003

发布

2003年

采用标准

IEC 60748-2-10:1994 IDT

发布单位

国家质检总局

当前最新

GB/T 17574.10-2003

 

 

适用范围

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列标准一起使用。

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