IEC 60749-13 Corrigendum 1-2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分:盐性环境
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
说明：
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- 标准号
- IEC 60749-13 Corrigendum 1-2003
- 发布日期
- 2003年08月
- 实施日期
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- L40
- 国际标准分类号
- 31.080.01
- 发布单位
- IX-IEC
- 代替标准
- IEC 60749-13-2018
- 适用范围
- This is Technical Corrigendum 1 to IEC 60749-13-2002 (Semiconductor devices -Mechanical and climatic test methods -Part 13:Salt atmosphere)