This is Technical Corrigendum 1 to IEC 60749-13-2002 (Semiconductor devices -Mechanical and climatic test methods -Part 13:Salt atmosphere)
IEC 60749-13 Corrigendum 1-2003由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2003-08。
IEC 60749-13 Corrigendum 1-2003 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合,在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
IEC 60749-13 Corrigendum 1-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分:盐性环境 于 0000-00-00 变更为 IEC 60749-13-2018 IEC 60749-13-2018。
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号