IEC 60749-11:2002/COR2:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method; Corrigendum 2
- 标准号
- IEC 60749-11:2002/COR2:2003
- 发布
- 2003年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-11:2002/COR2:2003
- This standard is Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method; Corrigendum 2.
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