ASTM F1372-93(2005)
气体分配系统组件用金属表面状态的扫描式电子显微镜(SEM)分析的标准试验方法
Standard Test Method for Scanning Electron Microscope (SEM) Analysis of Metallic Surface Condition for Gas Distribution System Components
哪些标准引用了ASTM F1372-93(2005)
找不到引用ASTM F1372-93(2005) 气体分配系统组件用金属表面状态的扫描式电子显微镜(SEM)分析的标准试验方法 的标准
- 标准号
- ASTM F1372-93(2005)
- 发布
- 1993年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM F1372-93(2012)
- 当前最新
- ASTM F1372-93(2020)
- 该测试方法的目的是定义测试考虑安装到高纯度气体分配系统中的组件的程序。应用该测试方法预计将在测试的组件之间产生可比较的数据，以验证该安装的资格。 1.1 本测试方法涵盖了管道、配件和阀门等部件内表面的表面形态测试。 1.2 本测试方法适用于管道、连接器、调节器、阀门和任何金属部件的所有表面，无论尺寸如何。 1.3 局限性： 1.3.1 该方法假设 SEM 操...
推荐
【材料课堂】SEM扫描电镜必备知识！
扫描式电子显微镜，其系统设计由上而下，由电子枪 (Electron Gun) 发射电子束，经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后，用遮蔽孔径 (Condenser Aperture) 选择电子束的尺寸(Beam Size)后，通过一组控制电子束的扫描线圈，再透过物镜 (Objective Lens) 聚焦，打在样品上，在样品的上侧装有讯号接收器，用以择取二次电子 (Secondary...
46个电子显微镜的知识点，你get了吗?
04、扫描式电子显微镜，其系统设计由上而下，由电子枪 (Electron Gun) 发射电子束，经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后，用遮蔽孔径 (Condenser Aperture) 选择电子束的尺寸(Beam Size)后，通过一组控制电子束的扫描线圈，再透过物镜 (Objective Lens) 聚焦，打在样品上，在样品的上侧装有讯号接收器，用以择取二次电子 (Secondary...
是谁总结了这46个电镜知识点，太棒了！
04扫描式电子显微镜，其系统设计由上而下，由电子枪 (Electron Gun) 发射电子束，经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后，用遮蔽孔径 (Condenser Aperture) 选择电子束的尺寸(Beam Size)后，通过一组控制电子束的扫描线圈，再透过物镜 (Objective Lens) 聚焦，打在样品上，在样品的上侧装有讯号接收器，用以择取二次电子 (Secondary...
【材料课堂】SEM扫描电镜必备的46条基础知识！
第四条：扫描式电子显微镜，其系统设计由上而下，由电子枪 (Electron Gun) 发射电子束，经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后，用遮蔽孔径 (Condenser Aperture) 选择电子束的尺寸(Beam Size)后，通过一组控制电子束的扫描线圈，再透过物镜 (Objective Lens) 聚焦，打在样品上，在样品的上侧装有讯号接收器，用以择取二次电子 (Secondary...