ASTM F1372-93(2005)
气体分配系统组件用金属表面状态的扫描式电子显微镜(SEM)分析的标准试验方法

Standard Test Method for Scanning Electron Microscope (SEM) Analysis of Metallic Surface Condition for Gas Distribution System Components


ASTM F1372-93(2005) 发布历史

ASTM F1372-93(2005)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1993。

ASTM F1372-93(2005) 在中国标准分类中归属于: E97 油、气处理设备。

ASTM F1372-93(2005)的历代版本如下:

  • 2020年 ASTM F1372-93(2020) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜(SEM)的标准测试方法
  • 1993年 ASTM F1372-93(2012) 气体分配系统组件用金属表面状态的扫描式电子显微镜 (SEM) 分析的标准试验方法
  • 1993年 ASTM F1372-93(2005) 气体分配系统组件用金属表面状态的扫描式电子显微镜(SEM)分析的标准试验方法
  • 1999年 ASTM F1372-93(1999) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜(SEM)的标准测试方法

 

该测试方法的目的是定义测试考虑安装到高纯度气体分配系统中的组件的程序。应用该测试方法预计将在测试的组件之间产生可比较的数据,以验证该安装的资格。

1.1 本测试方法涵盖了管道、配件和阀门等部件内表面的表面形态测试。

1.2 本测试方法适用于管道、连接器、调节器、阀门和任何金属部件的所有表面,无论尺寸如何。

1.3 局限性:

1.3.1 该方法假设 SEM 操作员通常在 12 个月内达到技能水平。

1.3.2 本试验方法仅限于评估凹坑、纵梁、撕裂、凹槽、划痕、夹杂物、阶梯状晶界和其他表面异常。然而,在异常评估中应排除样本制备过程中可能产生的污渍和颗粒。

1.4 以 SI 单位表示的数值应被视为标准。括号中给出的英寸-磅单位仅供参考。

1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。具体危险说明见第 6 节。

ASTM F1372-93(2005)

标准号
ASTM F1372-93(2005)
发布
1993年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM F1372-93(2012)
当前最新
ASTM F1372-93(2020)
 
 

推荐

【材料课堂】SEM扫描电镜必备知识!

扫描式电子显微镜,其系统设计由上而下,由电子枪 (Electron Gun) 发射电子束,经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后,遮蔽孔径 (Condenser Aperture) 选择电子束尺寸(Beam Size)后,通过一组控制电子束扫描线圈,再透过物镜 (Objective Lens) 聚焦,打在样品上,在样品上侧装有讯号接收器,用以择取二次电子 (Secondary...

46个电子显微镜知识点,你get了吗?

04、扫描式电子显微镜,其系统设计由上而下,由电子枪 (Electron Gun) 发射电子束,经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后,遮蔽孔径 (Condenser Aperture) 选择电子束尺寸(Beam Size)后,通过一组控制电子束扫描线圈,再透过物镜 (Objective Lens) 聚焦,打在样品上,在样品上侧装有讯号接收器,用以择取二次电子 (Secondary...

是谁总结了这46个电镜知识点,太棒了!

04扫描式电子显微镜,其系统设计由上而下,由电子枪 (Electron Gun) 发射电子束,经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后,遮蔽孔径 (Condenser Aperture) 选择电子束尺寸(Beam Size)后,通过一组控制电子束扫描线圈,再透过物镜 (Objective Lens) 聚焦,打在样品上,在样品上侧装有讯号接收器,用以择取二次电子 (Secondary...

【材料课堂】SEM扫描电镜必备46条基础知识!

第四条:扫描式电子显微镜,其系统设计由上而下,由电子枪 (Electron Gun) 发射电子束,经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后,遮蔽孔径 (Condenser Aperture) 选择电子束尺寸(Beam Size)后,通过一组控制电子束扫描线圈,再透过物镜 (Objective Lens) 聚焦,打在样品上,在样品上侧装有讯号接收器,用以择取二次电子 (Secondary...


ASTM F1372-93(2005) 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号