ASTM E1854-07
确保电子部件的中子引起的位移损伤试验一致性的标准实施规程

Standard Practice for Ensuring Test Consistency in Neutron-Induced Displacement Damage of Electronic Parts


哪些标准引用了ASTM E1854-07

 

ASTM E2450-23 混合中子光子环境中CaF＜inf＞2ASTM E1855-20 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法ASTM F1190-18 中子照射无偏电子元件的标准指南ASTM F980-16 硅半导体器件中子诱发位移损伤快速退火的标准指南ASTM E2450-16 在混合中子光子环境中应用CaF2 (Mn) 热释光剂量计的标准实施规程ASTM E1855-15 作为中子光谱传感器和位移破坏性监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法ASTM E2450-11 中子光子混合环境中CaF2(锰)热发光剂量计应用的标准操作规程ASTM F1190-11 无偏电子元件中子辐照的标准指南ASTM E1855-05e1 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管的使用的标准试验方法
标准号
ASTM E1854-07
发布
2007年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E1854-13
当前最新
ASTM E1854-19
 
 
1.1 本实践提出了确保硅和砷化镓电子零件中子致位移损伤测试一致性的要求。这需要对影响这些测试的准确性和可重复性的设施、剂量测定、测试仪和通信过程进行控制。它提供了有关中子测试要求和附加建议的技术基础的背景信息。除了中子之外，反应堆还用于提供其他地方无法实现的强度和持续时间的伽马射线脉冲。本实践还提供了使用核反应堆进行电子设备伽马射线测试的背景信息和建议。1...

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ASTM E2450-23 混合中子光子环境中CaF＜inf＞2 ASTM E1855-20 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法 ASTM F1190-18 中子照射无偏电子元件的标准指南 ASTM F980-16 硅半导体器件中子诱发位移损伤快速退火的标准指南 ASTM E2450-16 在混合中子光子环境中应用CaF2 (Mn) 热释光剂量计的标准实施规程 ASTM E1855-15 作为中子光谱传感器和位移破坏性监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法 ASTM E2450-11 中子光子混合环境中CaF2(锰)热发光剂量计应用的标准操作规程 ASTM F1190-11 无偏电子元件中子辐照的标准指南 ASTM E1855-05e1 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管的使用的标准试验方法


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