JIS R1660-1-2004
毫米波频率范围内精细陶瓷介电性能的测量方法.第1部分:截止波导法

Measurement method for dielectric properties of fine ceramics in millimeter wave frequency range -- Part 1: Cutoff waveguide method


JIS R1660-1-2004 发布历史

この規格は,主にミリ波回路に用いる低損失誘電体基板用ファインセラミヅクスの遮断円筒導波管方法によるミリ波帯における誘電特性の測定方法について規定する。

JIS R1660-1-2004由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 2004-03-20。

JIS R1660-1-2004 在中国标准分类中归属于: L10 电子元件综合,在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合,81.060.30 高级陶瓷。

JIS R1660-1-2004的历代版本如下:

  • 2004年03月20日 JIS R1660-1-2004 毫米波频率范围内精细陶瓷介电性能的测量方法.第1部分:截止波导法

 

 

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标准号
JIS R1660-1-2004
发布日期
2004年03月20日
实施日期
废止日期
中国标准分类号
L10
国际标准分类号
31.080.01;81.060.30
发布单位
JP-JISC
适用范围
この規格は,主にミリ波回路に用いる低損失誘電体基板用ファインセラミヅクスの遮断円筒導波管方法によるミリ波帯における誘電特性の測定方法について規定する。

JIS R1660-1-2004系列标准





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