11YSFFZT3935-2010采用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定高纯铋中杂质含量推荐制定 2011原材料工业司全国有色金属标准化技术委员会峨嵋半导体材料研究所 23YSJCZT3947-2010电子薄膜用高纯金属溅射靶材的纯度等级及杂质含量分析推荐制定 2011原材料工业司全国有色金属标准化技术委员会有研亿金新材料股份有限公司 30YSFFZT3955-2010氟化铝-元素分析 波长色散X射线荧光光谱法...
赛默飞世尔科技应用工程师 李小波 赛默飞世尔科技应用工程师李小波的报告题目是《iCAP TQ三重四级杆ICP-MS最新应用进展》。 赛默飞质谱今年年初发布了iCAP TQ三重四级杆ICP-MS,并于近期在国内亮相。报告中介绍了利用iCAP TQ三重四级杆ICP-MS在材料和生物样品上的一些应用,比如高温合金中杂质元素测定、生物样品中的Ti的测定、高纯氧化钐中稀土杂质测定等。...
MSPE作为一种公认的稀土分析技术未来的发展依赖新型吸附剂的开发。未来需要在稀土元素定量成像或者单细胞中特定蛋白质的REE标记方向投入更多研究。(第七届)中国稀土学会理化检验专业委员主任委员 李继东教授报告题目:辉光放电质谱法测定稀土氧化物中杂质元素含量研究李继东教授报道了高纯度稀土氧化物在电子、航空和核电领域会有更广泛的应用。...
事实上,真正在四级杆这块,没有什么大的改变,包括本底、噪音,都差不多,都是改变在接口上。 杭纬老师团队想要借研究ICP质谱的接口技术来研究辉光放电技术,近两年都集中在强激光质谱的研究上。杭纬老师说道:“就是刚才冯老师也讲到的Libs,只不过我们研究的是质谱。我们可以做到ppb的检出限,七个数量级的动态范围,不需要标准物质标定,实现定性定量分析” 杭纬老师还重点介绍了辉光放电。...
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