EN 14571:2005
非金属基底材料上金属覆层.覆层厚度的测量.微电阻率法

Metallic coatings on nonmetallic basis materials - Measurement of coating thickness - Microresistivity method


说明：

  • 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
  • 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
  • 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
  • 表示标准的节点，可以拖动；
  • 绿色表示标准：EN 14571:2005 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
  • 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
标准号
EN 14571:2005
发布
2005年
发布单位
欧洲标准化委员会
当前最新
EN 14571:2005
 
 
本文件描述了一种无损测量非导电基材上导电涂层厚度的方法。 该方法基于薄层电阻率测量原理，适用于任何导电涂层以及金属和半导体材料层。 一般来说，必须根据相应应用的电导率和厚度调整探头。 然而，本文件重点关注非导电基材上的金属涂层（例如塑料基材、印刷电路板上的铜）。 注1：本方法也适用于印刷电路板通孔铜厚的测量。 然而，对于此应用，需要与本文档中描述的不同的探针...

推荐

有关无损检测的方法和测厚仪

对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业，利用测量平台或辊（钢铁制造）也可用来实现大面积上任一点的测量。 电涡流测量原理 电涡流测厚法主要应用于金属基体上各种非金属涂镀层的测量。...

测厚仪检测的方法：无损检测技术

对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业，利用测量平台或辊（钢铁制造）也可用来实现大面积上任一点的测量。电涡流测量原理电涡流测厚法主要应用于金属基体上各种非金属涂镀层的测量。...

涂镀层的无损检测方法

对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业，利用测量平台或辊（钢铁制造）也可用来实现大面积上任一点的测量。 三、电涡流测量原理 电涡流测厚法主要应用于金属基体上各种非金属涂镀层的测量。...

无损检测的方法、覆层测厚仪

对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业，利用测量平台或辊（钢铁制造）也可用来实现大面积上任一点的测量。三、电涡流原理测厚仪      电涡流测厚法主要应用于金属基体上各种非金属涂镀层的测量。...


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号