EN 14571:2005
非金属基底材料上金属覆层.覆层厚度的测量.微电阻率法

Metallic coatings on nonmetallic basis materials - Measurement of coating thickness - Microresistivity method

EN 14571:2005 发布历史

EN 14571:2005由欧洲标准化委员会 IX-CEN 发布于 2005-04-01。

EN 14571:2005在国际标准分类中归属于: 17.040.20 表面特征。

EN 14571:2005的历代版本如下：

• 2005年 EN 14571:2005 非金属基底材料上金属覆层.覆层厚度的测量.微电阻率法

本文件描述了一种无损测量非导电基材上导电涂层厚度的方法。 该方法基于薄层电阻率测量原理，适用于任何导电涂层以及金属和半导体材料层。 一般来说，必须根据相应应用的电导率和厚度调整探头。 然而，本文件重点关注非导电基材上的金属涂层（例如塑料基材、印刷电路板上的铜）。 注1：本方法也适用于印刷电路板通孔铜厚的测量。 然而，对于此应用，需要与本文档中描述的不同的探针几何形状。 注2：如果涂层和基材的电阻率不同，则本方法也适用于导电基材上导电涂层的厚度测量。 本文件不考虑这种情况。

标准号

EN 14571:2005

发布

2005年

发布单位

欧洲标准化委员会

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