IEC 60747-1:2006/COR1:2008
半导体装置.第1部分:总则.技术勘误1
Semiconductor devices - Part 1: General; Corrigendum 1
2010-08
- 标准号
- IEC 60747-1:2006/COR1:2008
- 发布
- 2008年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 替代标准
- IEC 60747-1:2010
- 当前最新
- IEC 60747-1:2006/AMD1:2010
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