GB/T 22319.8-2008
石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
Measurement of quartz crystal unit parameters.Part 8:Test fixture for surface mounted quartz crystal units
GBT22319.8-2008, GB22319.8-2008
GB/T 22319.8-2008 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- GB/T 22319.8-2008
- 别名
- GBT22319.8-2008
GB22319.8-2008 - 发布
- 2008年
- 采用标准
- IEC 60444-08:2003 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 22319.8-2008
- 引用标准
- IEC 60444-1:1986 IEC 60444-2:1980 IEC 60444-5:1995 IEC 61240:1994
- GB/T 22319 的本部分规定了能精确测量无引线表面贴装石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻及等效电路参数的测量夹具，测量方法采用IEC 60444-4-1988和IEC 60444-5-1995规定的零相位技术。 使用该测量夹具的等效电路和适用的频率范围见随后条款。 此外，本部分也适用于IEC 61240-1994中的无引线晶体元件外壳。测量夹具的等效...
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