JIS C5630-3-2009
半导体器件.微型机电器件.第3部分:拉伸测试用薄膜标准试样

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing

JIS C5630-3-2009 发布历史

JIS C5630-3-2009由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 2009-03-20。

JIS C5630-3-2009 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080.99 其他半导体分立器件。

JIS C5630-3-2009 发布之时，引用了标准

• JIS C5630-2 半导体器件.微型机电器件.第2部分:薄膜材料的拉伸测试方法

JIS C5630-3-2009的历代版本如下：

• 2009年03月20日 JIS C5630-3-2009 半导体器件.微型机电器件.第3部分:拉伸测试用薄膜标准试样

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 JIS C5630-3-2009 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

JIS C5630-3-2009

发布日期

2009年03月20日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.99

发布单位

JP-JISC

引用标准

JIS C5630-2

JIS C5630-3-2009系列标准

谁引用了JIS C5630-3-2009 更多引用