QJ 10004-2008
宇航用半导体器件总剂量辐射试验方法
Total dose radiation testing method of semiconductor devices for space applications
QJ 10004-2008 发布历史
QJ 10004-2008由行业标准-航天 CN-QJ 发布于 2008-02-16，并于 2008-06-01 实施。
QJ 10004-2008 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合。
QJ 10004-2008 宇航用半导体器件总剂量辐射试验方法的最新版本是哪一版？
最新版本是 QJ 10004-2008 。
QJ 10004-2008 发布之时，引用了标准
- GB 4792-1984 放射卫生防护基本标准
- GJB 1649-1993 电子产品防静电放电控制大纲
- GJB 2712-1996 测量设备的质量保证要求 计量确认体系
- GJB 3756-1999 测量不确定度的表示及评定
QJ 10004-2008的历代版本如下：
- 2008年 QJ 10004-2008 宇航用半导体器件总剂量辐射试验方法
本标准规定了采用钴60γ射线对宇航用半导体器件（以下简称器件）进行电离总剂量辐照试验的一般要求和试验程序、方法。 本标准适用于宇航用半导体器件辐照评估试验和验证试验。
- 标准号
- QJ 10004-2008
- 发布
- 2008年
- 发布单位
- 行业标准-航天
- 当前最新
- QJ 10004-2008
- 引用标准
- GB 4792-1984 GJB 1649-1993 GJB 2712-1996 GJB 3756-1999
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