JEITA EDR-4704A-2007
半导体器件用加速寿命试验的应用指南
Application guide of the accelerated life test for semiconductor devices
JEITA EDR-4704A-2007 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- JEITA EDR-4704A-2007
- 发布
- 2007年
- 发布单位
- JP-JEITA
- 科学技术的最新进展使电子设备更加贴近我们的日常生活。就电子产品的生命周期而言，有些电子产品在重要应用中预期寿命较长，而另一些电子产品的使用寿命则较短。如今，半导体应用市场的扩张和多样化令人瞩目。例如，存在一些容易频繁更换的手持终端，例如手机。另一方面，有些电子设备需要在恶劣条件下具有长寿命的耐用性，例如汽车电子元件。这些电子产品大多无一例外地包含大量的半导体...
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