ISO 21270-2004
表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

Surface chemical analysis - X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers - Linearity of intensity scale

表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性 是非强制性国家标准，您可以免费下载前三页

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哪些标准引用了ISO 21270-2004

ISO 19830-2015表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求 ISO 15471-2016表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述 BS ISO 18118-2015表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南 ISO 18118-2015表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南 BS ISO 15471-2016表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述 BS ISO 15471-2016表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述 BS ISO 19830-2015表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求

标准号: ISO 21270-2004
发布日期: 2004年06月
实施日期
废止日期: 无
中国标准分类号: G04
国际标准分类号: 71.040.40
发布单位: 国际标准化组织
引用标准: ISO 18115
被代替标准: ISO/DIS 21270-2002

适用范围: 本标准规定了两种方法，用于测定AES和XPS谱仪强度标在容许线性离散限度范围内的最大计数率。它也包括校正强度非线性的方法，以便那些谱仪可使用更高的最大计数率，对于这些谱仪相关的校正公式已被证明是有效的。

ISO 21270-2004 中可能用到的仪器设备

X射线能谱仪(EDS)

谁引用了ISO 21270-2004 更多引用

ISO 19830-2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求 ISO 15471-2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述 BS ISO 18118-2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南 ISO 18118-2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南 BS ISO 15471-2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述 BS ISO 15471-2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述 BS ISO 19830-2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求

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