ISO 21270-2004
表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

Surface chemical analysis - X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers - Linearity of intensity scale

ISO 21270-2004 发布历史

本标准规定了两种方法，用于测定AES和XPS谱仪强度标在容许线性离散限度范围内的最大计数率。它也包括校正强度非线性的方法，以便那些谱仪可使用更高的最大计数率，对于这些谱仪相关的 校正公式已被证明是有效的。

ISO 21270-2004由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2004-06。

ISO 21270-2004 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 71.040.40 化学分析。

ISO 21270-2004 发布之时，引用了标准

• ISO 18115 表面化学分析.词汇.第3部分:光学界面分析中使用的术语*， 2022-06-30 更新

* 在 ISO 21270-2004 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

ISO 21270-2004的历代版本如下：

• 2004年06月 ISO 21270-2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

标准号

ISO 21270-2004

发布日期

2004年06月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

G04

国际标准分类号

71.040.40

发布单位

国际标准化组织

引用标准

ISO 18115

被代替标准

ISO/DIS 21270-2002

适用范围

本标准规定了两种方法，用于测定AES和XPS谱仪强度标在容许线性离散限度范围内的最大计数率。它也包括校正强度非线性的方法，以便那些谱仪可使用更高的最大计数率，对于这些谱仪相关的 校正公式已被证明是有效的。

ISO 21270-2004 中可能用到的仪器设备

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