(2) 飞行时间二次离子质谱法(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS) 是通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。 ...
(2) 飞行时间二次离子质谱法(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS)是通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。 ...
5.分析方法参考标准 ASTM E1078-2009 表面分析中试样制备和安装程序的标准指南 ASTM E1504-2011 次级离子质谱(SIMS)测定中质谱数据报告的标准规范 ASTM E1829-2009 先于表面分析的样品处置标准指南 ...
一、同位素质谱仪器同位素质谱仪由进样系统、离子源、质量分析器、离子收集检测器、真空系统、电源及监控显示和计算机控制与数据处理系统组成,其结构原理如图,样品经进样系统导入或直接送入离子源,中性原子被电离成离子,经静电透镜汇聚成具有一定能量的离子束进入质量分析器,按质荷比m/z实现空间(磁分析器)、时间(飞行时间和射频场分析器)分离的离子東流进入离子收集检测器,获得以质荷比m/z为横坐标、离子束流为纵坐标的二维质谱峰...
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