ASTM E2695-09
用飞行时间二次离子质谱法说明质谱数据获取的标准指南
Standard Guide for Interpretation of Mass Spectral Data Acquired with Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy
ASTM E2695-09 发布历史
ASTM E2695-09由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2009。
ASTM E2695-09 在中国标准分类中归属于: V04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 71.040.50 物理化学分析方法。
ASTM E2695-09 发布之时，引用了标准
- ASTM E1078 表面分析中试样制备和安装程序的标准指南
- ASTM E1504 次级离子质谱(SIMS)测定中质谱数据报告的标准规范
- ASTM E1635 二次离子质谱（SIMS）中成像数据报告的标准实施规程
- ASTM E673 与表面分析相关的标准术语
- ISO 18116 表面化学分析.分析用试样的制备和装配指南
- ISO 23830 表面化学分析.次级离子质谱测定法.静态次级离子质谱测定法中相对强度数值范围的重复性和稳定性
ASTM E2695-09的历代版本如下：
- 2009年 ASTM E2695-09 用飞行时间二次离子质谱法说明质谱数据获取的标准指南
由于获得的数据的复杂性和密度，静态 SIMS 质谱数据的解释可能会很复杂，因此，当用户的数据解释方法不一致时，经常会发生变化。本指南旨在通过讨论最重要的内容来帮助避免这些不一致。静态 SIMS 分析中常见的场景以及如何处理这些场景。本指南可用作员工或学生或两者的培训指南。
1.1 本指南为飞行时间二次离子质谱 (ToF-SIMS) 用户提供一种质谱数据解释形式的方法。本指南适用于大多数 ToF-SIMS 仪器，并且可能适用也可能不适用于其他形式的二次图标质谱 (SIMS)。
1.2 本指南无意讨论样品制备方法。用户有责任遵守严格的样品制备程序，以最大限度地减少污染并优化信号。有关样品制备指南，请参阅指南 E1078 和 ISO 18116。
1.3 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.4 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
- 标准号
- ASTM E2695-09
- 发布
- 2009年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM E2695-09
- 引用标准
- ASTM E1078 ASTM E1504 ASTM E1635 ASTM E673 ISO 18116 ISO 23830