IEC 62415-2010
半导体器件.恒定电流电迁移试验

Semiconductor devices - Constant current electromigration test

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标准号

IEC 62415-2010

发布日期

2010年05月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

IX-IEC

适用范围

This standard describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.