BS EN 62415:2010
半导体器件.恒定电流电迁移试验

Semiconductor devices - Constant current electromigration test


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BS EN 62415:2010
标准号
BS EN 62415:2010
发布
2010年
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS EN 62415:2010
 
 
该标准描述了金属线、通孔串和触点的常规恒流电迁移测试方法。

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