BS EN 62415:2010
半导体器件.恒定电流电迁移试验
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
BS EN 62415:2010 发布历史
BS EN 62415:2010由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2010-07-31，并于 2010-07-31 实施。
BS EN 62415:2010 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
BS EN 62415:2010的历代版本如下：
- 2010年 BS EN 62415:2010 半导体器件.恒定电流电迁移试验
该标准描述了金属线、通孔串和触点的常规恒流电迁移测试方法。
