GB/T 25758.4-2010
无损检测 工业X射线系统焦点特性 第4部分：边缘方法
Non-destructive testing.Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing.Part 4:Edge method
GBT25758.4-2010, GB25758.4-2010
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- 标准号
- GB/T 25758.4-2010
- 别名
- GBT25758.4-2010
GB25758.4-2010 - 发布
- 2010年
- 采用标准
- EN 12543-4:1999 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 25758.4-2010
- 引用标准
- GB/T 19348.1 GB/T 19802 GB/T 25758.1
- 代替标准
- SAE MA 3302C-2014
- 适用范围
- GB/T 25758的本部分规定了采用清晰边缘的射线照相底片，来校验管电压最高至500kV的工业X射线系统的大于0.5mm焦点尺寸的方法。 X射线图像的像质和分辨力很大程度上取决于焦点的特性。焦点成像质量基于目标平面的二维强度分布。 边缘方法对于在现场条件下校验焦点是特别有效，及发现焦点的变化。本方法不能用于焦点尺寸的绝对测量。
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