GB/T 25758的本部分规定了采用清晰边缘的射线照相底片,来校验管电压最高至500kV的工业X射线系统的大于0.5mm焦点尺寸的方法。 X射线图像的像质和分辨力很大程度上取决于焦点的特性。焦点成像质量基于目标平面的二维强度分布。 边缘方法对于在现场条件下校验焦点是特别有效,及发现焦点的变化。本方法不能用于焦点尺寸的绝对测量。
GB/T 25758.4-2010由国家质检总局 CN-GB 发布于 2010-12-23,并于 2011-10-01 实施。
GB/T 25758.4-2010 在中国标准分类中归属于: J04 基础标准与通用方法,在国际标准分类中归属于: 19.100 无损检测。
* 在 GB/T 25758.4-2010 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
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