IEC 61967-8:2011
集成电路的电磁辐射测量.第8部分:IC带状线法测量辐射干扰
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
- 标准号
- IEC 61967-8:2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 替代标准
- IEC 61967-8:2023 RLV
- 当前最新
- IEC 61967-8:2023 RLV
- 被代替标准
- IEC 47A/868/FDIS:2011
- 适用范围
- IEC 61967 本部分的测量程序定义了一种使用 IC 带状线在 150 kHz 至 3 GHz 频率范围内测量集成电路 (IC) 电磁辐射的方法。正在评估的 IC 安装在 EMC 测试板 (PCB) 上，位于 IC 带状线布置的有源导体和接地平面之间。
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