IEC 61967-8-2011
集成电路的电磁辐射测量.第8部分:IC带状线法测量辐射干扰
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
IEC 61967-8-2011 发布历史
IEC 61967-8-2011由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2011-08。
IEC 61967-8-2011 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路,A55 电磁计量，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
IEC 61967-8-2011的历代版本如下：
- 2011年08月01日 IEC 61967-8-2011 Circuits intégrés – Mesure des émissions électromagnétiques – Partie 8: Mesure des émissions rayonnées – Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI (Edition 1.0)
IEC 61967-8-2011系列标准
IEC 61967-1 (REDLINE + STANDARD)-2018
IEC 61967-1-1-2010 集成电路.电磁放射性的测量.第1-1部分:一般情况和定义.近场扫描数据交换格式
IEC 61967-1-2018 RLV 集成电路.电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义
IEC 61967-2-2005 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频TEM辐射室法
IEC 61967-4 AMD 1-2006 修改件1.集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第4部分:1Ω/150Ω直接耦合法
IEC 61967-4 CORR 1-2017 集成电路. 150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量. 第4部分: 传导发射测量; 1 Ώ/150 Ώ直接耦合法. 勘误表1
IEC 61967-4 Edition 1.1-2006 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射测量.第4部分:电导辐射测量.1～150Ω直接耦合法
IEC 61967-4-2021 RLV 集成电路电磁发射的测量第4部分:传导发射的测量1欧姆/150欧姆直接耦合法
IEC 61967-4-2002/AMD1-2006 修改件1——集成电路——150 kHz至1 GHz电磁发射的测量——第4部分:传导发射的测量——1&Omega/150&ω；直接耦合法
IEC 61967-5-2003 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第5部分:感应辐射测量.工作台法拉第筒法
IEC 61967-6 AMD 1-2008 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法.修改件1
IEC 61967-6 CORR 1-2010 集成电路.150 kHz-1 GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法
IEC 61967-6 Corrigendum 1-2010 集成电路.150 kHz-1 GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法
IEC 61967-6 Edition 1.1-2008 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射的测量.磁探针法
IEC 61967-6-2008 IEC 61967-6-2008
IEC 61967-6-2002/AMD1-2008 修改件1.集成电路.150 kHz至1 GHz电磁发射的测量.第6部分:传导发射的测量.磁探针法