VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002
光学 3D 测量系统 带逐点探测的成像系统

Optical 3D measuring systems - Imaging systems with point-by-point probing


VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002 中,可能用到以下仪器

 

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多功能高分辨率磁光克尔显微成像系统

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VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002

标准号
VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002
发布
2002年
发布单位
德国机械工程师协会
当前最新
VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002
 
 
引用标准
ISO 10360-2:2001
被代替标准
VDI/VDE 2634 Blatt 1-2000
该指南适用于移动、灵活的光学 3D 测量系统

VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002相似标准


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