VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002
光学 3D 测量系统 带逐点探测的成像系统
Optical 3D measuring systems - Imaging systems with point-by-point probing
VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002 发布历史
VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002由德国机械工程师协会 DE-VDI 发布于 2002-05。
VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002在国际标准分类中归属于: 17.040.30 测量仪器仪表。
VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002 光学 3D 测量系统 带逐点探测的成像系统的最新版本是哪一版？
最新版本是 VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002 。
VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002 发布之时，引用了标准
- ISO 10360-2:2001 产品几何量技术规范（GPS） 坐标测量机（CMMs）的验收和复检 第2部分：用于测量尺寸的CMM
VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002的历代版本如下：
- 2002年 VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002 光学 3D 测量系统 带逐点探测的成像系统
- 2000年 VDI/VDE 2634 Blatt 1-2000 光学 3D 测量系统 具有逐点传感功能的成像系统
该指南适用于移动、灵活的光学 3D 测量系统
- 标准号
- VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002
- 发布
- 2002年
- 发布单位
- 德国机械工程师协会
- 当前最新
- VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002
- 引用标准
- ISO 10360-2:2001
- 被代替标准
- VDI/VDE 2634 Blatt 1-2000