DIN EN 62047-8:2011
半导体设备.微机电设备.第8部分:薄膜拉伸性能测量用带弯曲试验方法(IEC 62047-8-2011).德文版 EN 62047-8-2011
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (IEC 62047-8:2011); German version EN 62047-8:2011
- 标准号
- DIN EN 62047-8:2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN EN 62047-8:2011
- 被代替标准
- DIN IEC 62047-8:2008
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