IEC 62132-8:2012
集成电路.电磁抗扰度的测量.第8部分:辐射抗扰度测量.集成电路(IC)电介质条状线法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC Stripline method


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IEC 62132-8:2012

标准号
IEC 62132-8:2012
发布
2012年
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC 62132-8:2012
 
 
被代替标准
IEC 47A/882/FDIS:2012

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