IEC 62132-8-2012
集成电路.电磁抗扰度的测量.第8部分:辐射抗扰度测量.集成电路(IC)电介质条状线法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC Stripline method

IEC 62132-8-2012 发布历史

IEC 62132-8-2012由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2012-07。

IEC 62132-8-2012 在中国标准分类中归属于: L06 电磁兼容，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学,33.100.20 抗扰度。

IEC 62132-8-2012的历代版本如下：

• 2012年07月 IEC 62132-8-2012 集成电路.电磁抗扰度的测量.第8部分:辐射抗扰度测量.集成电路(IC)电介质条状线法

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标准号

IEC 62132-8-2012

发布日期

2012年07月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L06

国际标准分类号

31.200;33.100.20

发布单位

IX-IEC

被代替标准

IEC 47A/882/FDIS-2012

IEC 62132-8-2012系列标准

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