ASTM F1892-12
半导体器件电离辐射 (总剂量) 效应试验的标准指南
Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices
- 标准号
- ASTM F1892-12
- 发布
- 2012年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM F1892-12(2018)
- 当前最新
- ASTM F1892-12(2018)
- 引用标准
- ASTM E1249 ASTM E1250 ASTM E170 ASTM E666 ASTM E668 ASTM F1467 ASTM F996 ISO/ASTM 51275 MIL-HDBK-814 MIL-STD-750 MIL-STD-883
- 1.1 本指南介绍了建立适当的测试顺序和数据分析程序的背景和指南，以确定剂量率低于 300 rd(SiO2)/s 的微电子器件的电离辐射（总剂量）硬度。这些测试和分析将有助于确定被测设备满足特定硬度要求的能力，或评估在一系列辐射环境中使用的部件。 1.2 所提出的方法和指南将适用于硅基 MOS 和双极分立器件和集成电路的表征、鉴定和批量验收。它们适用于治疗电...
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