DIN EN 62132-8:2013
集成电路.电磁抗扰度的测量.第8部分:辐射抗扰度测量.集成电路(IC)电介质条状线法(IEC 62132-8-2012).德文版本EN 62132-8-2012
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method (IEC 62132-8:2012); German version EN 62132-8:2012
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- 标准号
- DIN EN 62132-8:2013
- 发布
- 2013年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN EN 62132-8:2013
- 引用标准
- IEC 60050 IEC 61000-4-20 IEC 62132-1-2006
- 被代替标准
- DIN IEC 62132-8:2009
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