DIN EN 62132-8-2013
集成电路.电磁抗扰度的测量.第8部分:辐射抗扰度测量.集成电路(IC)电介质条状线法(IEC 62132-8-2012).德文版本EN 62132-8-2012
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method (IEC 62132-8:2012); German version EN 62132-8:2012
DIN EN 62132-8-2013 发布历史
DIN EN 62132-8-2013由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2013-03，并于 2013-03-01 实施。
DIN EN 62132-8-2013 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
DIN EN 62132-8-2013 发布之时，引用了标准
- IEC 60050 修改件3.国际电工词汇（IEV）.第904部分:电气和电子产品及系统的环境标准化*， 2019-10-17 更新
* 在 DIN EN 62132-8-2013 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
DIN EN 62132-8-2013的历代版本如下：
- 2013年03月 DIN EN 62132-8-2013 集成电路.电磁抗扰度的测量.第8部分:辐射抗扰度测量.集成电路(IC)电介质条状线法(IEC 62132-8-2012).德文版本EN 62132-8-2012
- 标准号
- DIN EN 62132-8-2013
- 发布日期
- 2013年03月
- 实施日期
- 2013年03月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 引用标准
- IEC 60050 IEC 61000-4-20 IEC 62132-1-2006
- 被代替标准
- DIN IEC 62132-8-2009
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