GB/T 5594.2-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Young's elastic modulus and Poisson ratio

GB/T 5594.2-1985 发布历史

本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。

GB/T 5594.2-1985由国家质检总局 CN-GB 发布于 1985-11-27，并于 1986-12-01 实施。

GB/T 5594.2-1985的历代版本如下：

  • 1985年11月27日 GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法

 

 

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标准号
GB/T 5594.2-1985
发布日期
1985年11月27日
实施日期
1986年12月01日
废止日期
无
中国标准分类号
L32
国际标准分类号
31.030
发布单位
国家质检总局
适用范围
本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。

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谁引用了GB/T 5594.2-1985 更多引用

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