GB/T 5594.2-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Young's elastic modulus and Poisson ratio
GBT5594.2-1985, GB5594.2-1985
- 标准号
- GB/T 5594.2-1985
- 别名
- GBT5594.2-1985, GB5594.2-1985
- 发布
- 1985年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 5594.2-1985
- 适用范围
- 本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。
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