KS I 0051-1999
扫描电子显微镜试验方法通则

General rules for scanning electron microscopy


KS I 0051-1999 中，可能用到以下仪器

 

台式扫描电子显微镜ZEM15

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标准号
KS I 0051-1999
发布
1999年
发布单位
韩国科技标准局
替代标准
KS I 0051-1999(2019)
当前最新
KS I 0051-1999(2019)
 
 
被代替标准
M0044
이 규격은 주사 전자 현미경을 사용하고 주로 2차 전자에 의한 시료 표면의 미소한 부분의

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JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则 JB/T 6842-1993 扫描电子显微镜试验方法 JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则 JIS K 0132:1997 扫描电子显微镜总则 GB/T 33834-2017 微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法

KS I 0051-1999 中可能用到的仪器设备

扫描电镜SEM 原位样品杆/台 电镜附件及外设 荧光显微镜 透射电镜TEM 其他试验机 切割机


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