KS I 0051-1999
扫描电子显微镜试验方法通则

General rules for scanning electron microscopy

2019-01

标准号
KS I 0051-1999
发布
1999年
发布单位
韩国科技标准局
替代标准
KS I 0051-2019
当前最新
KS I 0051-2019
 
 
被代替标准
M0044
适用范围
이 규격은 주사 전자 현미경을 사용하고 주로 2차 전자에 의한 시료 표면의 미소한 부분의

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KS I 0051-1999 中可能用到的仪器设备

扫描电镜SEM 原位样品杆/台 电镜附件及外设 荧光显微镜 透射电镜TEM 其他试验机 切割机


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