KS C IEC 60749-4-2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 4：Damp heat, steady state, highly accelerated stress test(HAST)

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标准号

KS C IEC 60749-4-2003

发布日期

2003年03月25日

实施日期

2003年03月25日

废止日期

无

中国标准分类号

K46

国际标准分类号

31.080.00

发布单位

KR-KATS

适用范围

이 규격은 습한 환경에서 비밀봉성 패키지된 반도체 소자들의 신뢰성을 평가하기 위한 목