KS C IEC 60749-4-2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 4：Damp heat, steady state, highly accelerated stress test(HAST)

KS C IEC 60749-4-2003 发布历史

이 규격은 습한 환경에서 비밀봉성 패키지된 반도체 소자들의 신뢰성을 평가하기 위한 목

KS C IEC 60749-4-2003由韩国标准 KR-KATS 发布于 2003-03-25，并于 2003-03-25 实施。

KS C IEC 60749-4-2003 在中国标准分类中归属于: K46 电力半导体器件、部件。

KS C IEC 60749-4-2003的历代版本如下：

• 2003年03月25日 KS C IEC 60749-4-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验
• 2020年07月23日 KS C IEC 60749-4-2020 半导体器件 - 机械和气候测试方法第4部分:潮湿热 稳态 高加速应力测试（HAST）

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标准号

KS C IEC 60749-4-2003

发布日期

2003年03月25日

实施日期

2003年03月25日

废止日期

无

中国标准分类号

K46

国际标准分类号

31.080.00

发布单位

KR-KATS

适用范围

이 규격은 습한 환경에서 비밀봉성 패키지된 반도체 소자들의 신뢰성을 평가하기 위한 목