ISO 15932:2013
微光束分析.分析电子显微镜.词汇
Microbeam analysis.Analytical electron microscopy.Vocabulary
ISO 15932:2013 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- ISO 15932:2013
- 发布
- 2013年
- 中文版
- GB/T 40300-2021 (修改采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 15932:2013
- 本国际标准定义了 AEM 实践中使用的术语。 它涵盖了一般概念和特定概念，并根据其层次结构以系统顺序进行分类。 本国际标准适用于与AEM实践相关的所有标准化文件。 此外，本国际标准的某些部分适用于那些与相关领域（例如TEM、STEM、SEM、EPMA、EDX）实践相关的文件，以定义这些领域通用的术语。
ISO 15932:2013相似标准
推荐
一文了解EPMA制样要求
国家质检总局，关于epma 制样的标准 GB/T 21636-2008 微束分析.电子探针显微分析(EPMA)术语 国际标准化组织，关于epma 制样的标准 ISO 19463-2018 微光束分析.电子探针显微分析仪（EPMA）.执行质量保证程序的指南 ISO 23833-2013 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇 ISO 23833-2006 微光束分析.电子探针微量分析...
扫描电镜的基本内容介绍
此外, 扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合, 可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。...
什么是扫描电子显微镜？
此外, 扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合, 可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。...
扫描电子显微镜的技术特点和应用
此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。...